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19 Beziehungen: Austrittsarbeit, Elektrische Kapazität, Elektrische Ladung, Elektrisches Feld, Elektron, Fermi-Energie, Grenzfläche, Influenz, Kondensator (Elektrotechnik), Kontaktelektrizität, Lamination, Metalle, Oxide, Piezoelement, Polymer, Raster-Kelvin-Mikroskopie, Rasterkraftmikroskop, Volta-Spannung, William Thomson, 1. Baron Kelvin.
Austrittsarbeit
Die Austrittsarbeit (oder Auslösearbeit, Ablösearbeit) ist die Arbeit, also die Energie, die mindestens aufgewandt werden muss, um ein Elektron aus einem ungeladenen Festkörper zu lösen.
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Elektrische Kapazität
Die elektrische Kapazität (Formelzeichen C, von; Adjektiv kapazitiv) ist eine physikalische Größe aus dem Bereich der Elektrostatik, Elektronik und Elektrotechnik.
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Elektrische Ladung
Die elektrische Ladung oder Elektrizitätsmenge ist eine physikalische Größe, die mit der Materie verbunden ist, wie beispielsweise auch die Masse.
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Elektrisches Feld
Eine nirgends angeschlossene Leuchtstofflampe in der Nähe einer Hochspannungsleitung leuchtet aufgrund des sich ständig ändernden elektrischen Feldes Das elektrische Feld ist ein physikalisches Feld, das durch die Coulombkraft auf elektrische Ladungen wirkt.
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Elektron
Das Elektron (IPA:,; von „Bernstein“) ist ein negativ geladenes stabiles Elementarteilchen.
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Fermi-Energie
Die Fermi-Energie (auch Fermi-Niveau oder Fermi-Potential, engste Umgebung Fermi-Kante; nach Enrico Fermi) ist ein physikalischer Begriff aus der Quantenstatistik.
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Grenzfläche
Als Grenzfläche oder Phasengrenze wird in der Physik und Materialwissenschaft die Fläche zwischen zwei Phasen bezeichnet, beispielsweise die Fläche zwischen zwei nicht mischbaren Flüssigkeiten wie Öl und Wasser.
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Influenz
Veranschaulichung elektrischer Influenz auf einen negativ geladenen Leiter Störung des Feldes durch Influenz auf einen Leiter Influenz (lat. Einfluss), auch Elektrostatische Induktion genannt, bezeichnet die räumliche Verschiebung elektrischer Ladungen durch die Einwirkung eines elektrischen Feldes.
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Kondensator (Elektrotechnik)
Prinzipdarstellung eines Kondensators mit Dielektrikum Ein Kondensator (von) ist ein passives elektrisches Bauelement mit der Fähigkeit, in einem Gleichstromkreis elektrische Ladung und die damit zusammenhängende Energie statisch in einem elektrischen Feld zu speichern.
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Kontaktelektrizität
Als Kontaktelektrizität, Berührungselektrizität werden zusammenfassend elektrische Phänomene bezeichnet, die an Grenzflächen zwischen verschiedenen Substanzen bzw.
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Lamination
Die Lamination („Platte, Scheibe, Blatt“) bezeichnet einerseits ein stoffschlüssiges, thermisches Fügeverfahren ohne Hilfsmaterialien.
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Metalle
Metalle (von „Bergwerk, Erz, Metall“) bilden diejenigen chemischen Elemente, die sich im Periodensystem der Elemente links und unterhalb einer Trennungslinie von Bor bis Astat befinden.
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Oxide
Kupfer(II)-oxid Mennige, Blei(II,IV)-oxid Ein Quarzkristall – chemisch gesehen reines Siliciumdioxid Korund-Kristalle sind eine natürlich vorkommende, farblose Modifikation des Aluminiumoxids. Bekannte Farbvarietäten sind der blaue Saphir (gefärbt durch Fe/Ti) und der rote Rubin (gefärbt durch Cr). Stickstoffdioxid ist ein braunes, giftiges Gas Oxide (ältere Schreibung und auch allgemeinsprachlich Oxyde; von griech. ὀξύς, oxýs ‚scharf‘, ‚spitz‘, ‚sauer‘) sind Sauerstoff-Verbindungen eines Elements, in denen der Sauerstoff die Oxidationszahl −2 hat.
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Piezoelement
Mechanische Kraft auf ein Piezoelement bewirkt eine elektrische Spannung Ein Piezoelement ist ein Bauteil, das.
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Polymer
Ein Polymer (von, polý ‚viel‘ und μέρος, méros ‚Teil‘) ist ein chemischer Stoff, der aus Makromolekülen besteht.
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Raster-Kelvin-Mikroskopie
Die Raster-Kelvin-Mikroskopie (oft KPFM oder KFM abgekürzt vom englischen Begriff Kelvin (Probe) Force Microscopy, manchmal auch SKPM – Scanning Kelvin Probe Microscopy) ist ein Verfahren zur Messung des lokal aufgelösten Oberflächenpotentials einer Probe.
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Rasterkraftmikroskop
Ein Rasterkraftmikroskop. Rechts dargestellt ist der aufgeklappte Probenkopf. Funktionsprinzip des Rasterkraftmikroskops Rasterkraftmikroskopische Abbildung der Datenschicht einer gepressten Compact Disc. Das Rasterkraftmikroskop, auch atomares Kraftmikroskop oder Atomkraftmikroskop (Abkürzungen AFM bzw. SFM, seltener RKM) genannt, ist ein spezielles Rastersondenmikroskop.
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Volta-Spannung
Galvani-Potential \phi, Volta-Potential \psi und Oberflächenpotential \chi in einer Phase. Die entsprechenden Spannungen ergeben sich als Differenzen der jeweiligen Potentiale zwischen zwei Phasen. In der Elektrochemie versteht man unter Volta-Spannung, Kontaktspannung oder auch Berührungsspannung (nicht zu verwechseln mit der Berührungsspannung bei elektrischen Geräten) die Differenz der äußeren elektrischen Potentiale, die auf die Überschussladungen entgegengesetzten Vorzeichens an den Phasengrenzen zurückzuführen sind.
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William Thomson, 1. Baron Kelvin
William Thomson, 1. Baron Kelvin (Fotografie 1906) Thomsons Spiegel-Galvanometer, 1858, Science Museum London William Thomson, 1.
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