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Scan Test

Index Scan Test

Scan Test bezeichnet bei (modernen) digitalen Schaltungen ein spezielles Verfahren zum Testen auf strukturelle (das heißt fertigungsbedingte) Schäden.

Inhaltsverzeichnis

  1. 3 Beziehungen: Boundary Scan Test, Flipflop, Synthesetool.

Boundary Scan Test

Boundary Scan (engl.) und Grenzpfadabtastung sind synonyme Begriffe für ein standardisiertes Verfahren zum Testen digitaler und analoger Bausteine in der Elektronik.

Sehen Scan Test und Boundary Scan Test

Flipflop

EN 60617–12 ''Graphische Symbole für Schaltpläne – Teil 12: Binäre Elemente.'' April 1999, Deutsche Übersetzung der internationalen Norm IEC 60617–12:1997 DIL-Gehäuse, gefertigt seit etwa Mitte der 1980er Jahre Ein Flipflop (auch Flip-Flop), oft auch bistabile Kippstufe oder bistabiles Kippglied genannt, ist eine elektronische Schaltung, die zwei stabile Zustände des Ausgangssignals besitzt.

Sehen Scan Test und Flipflop

Synthesetool

Ein Synthesetool (dt. »Synthesewerkzeug«) ist eine Software die in der digitalen Mikroelektronik bei der Erzeugung von Chips und FPGAs verwendet wird.

Sehen Scan Test und Synthesetool