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Scan Test

Index Scan Test

Scan Test bezeichnet bei (modernen) digitalen Schaltungen ein spezielles Verfahren zum Testen auf strukturelle (das heißt fertigungsbedingte) Schäden.

Inhaltsverzeichnis

  1. 4 Beziehungen: Boundary Scan Description Language, Boundary Scan Test, Joint Test Action Group, Synthesetool.

Boundary Scan Description Language

Die Boundary Scan Description Language (kurz: BSDL) ist eine Sprache zur Beschreibung von Boundary-Scan-Test-Fähigkeiten JTAG-kompatibler elektronischer Bauteile.

Sehen Scan Test und Boundary Scan Description Language

Boundary Scan Test

Boundary Scan (engl.) und Grenzpfadabtastung sind synonyme Begriffe für ein standardisiertes Verfahren zum Testen digitaler und analoger Bausteine in der Elektronik.

Sehen Scan Test und Boundary Scan Test

Joint Test Action Group

Joint Test Action Group (kurz JTAG) ist ein häufig verwendetes Synonym für den IEEE-Standard 1149.1, der eine Methodik für das Testen und Debuggen integrierter Schaltungen, also Hardware auf Leiterplatten, beschreibt.

Sehen Scan Test und Joint Test Action Group

Synthesetool

Ein Synthesetool (dt. »Synthesewerkzeug«) ist eine Software die in der digitalen Mikroelektronik bei der Erzeugung von Chips und FPGAs verwendet wird.

Sehen Scan Test und Synthesetool