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25 Beziehungen: Boundary Scan Test, Built-in self-test, Device Under Test, Elektrische Kapazität, Elektrischer Widerstand, Elektronik, Flipflop, Geschwindigkeit, Herstellungskosten, Hertz (Einheit), Integrierter Schaltkreis, Joint Test Action Group, Komparator (Analogtechnik), Leckstrom, Leiterplatte, Messtechnik, Mikrocontroller, Programmierbare logische Schaltung, Random-Access Memory, Schwellenspannung, Standard Test Data Format, Starrnadeladapter, System-on-a-Chip, Taktsignal, Wafertest.
Boundary Scan Test
Boundary Scan (engl.) und Grenzpfadabtastung sind synonyme Begriffe für ein standardisiertes Verfahren zum Testen digitaler und analoger Bausteine in der Elektronik.
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Built-in self-test
Built-in self-test (BIST) bedeutet, dass ein elektronischer Baustein eine integrierte Testschaltung besitzt, welche Testsignale erzeugt und meist auch mit vorgegebenen richtigen Antwort-Signalen vergleicht, so dass das Testresultat an ein ATE (Automatic Test Equipment) ausgegeben werden kann.
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Device Under Test
Als Device Under Test (dt.: Prüfling), kurz DUT, wird vor allem in der elektrischen Mess- und Prüftechnik ein zu prüfendes Objekt bezeichnet.
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Elektrische Kapazität
Die elektrische Kapazität (Formelzeichen C, von; Adjektiv kapazitiv) ist eine physikalische Größe aus dem Bereich der Elektrostatik, Elektronik und Elektrotechnik.
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Elektrischer Widerstand
Der elektrische Widerstand ist in der Elektrotechnik ein Maß dafür, welche elektrische Spannung erforderlich ist, um eine bestimmte elektrische Stromstärke durch einen elektrischen Leiter (Bauelement, Stromkreis) fließen zu lassen.
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Elektronik
Elektronikbaugruppe eines Frequenzumrichters integrierten Schaltkreis (oben), Widerständen (rechts unten), zwei Leuchtdioden (Mitte links) und einem Kondensator (hellbrauner Quader Mitte rechts) Die Elektronik ist ein Teilgebiet der Elektrotechnik.
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Flipflop
EN 60617–12 ''Graphische Symbole für Schaltpläne – Teil 12: Binäre Elemente.'' April 1999, Deutsche Übersetzung der internationalen Norm IEC 60617–12:1997 DIL-Gehäuse, gefertigt seit etwa Mitte der 1980er Jahre Ein Flipflop (auch Flip-Flop), oft auch bistabile Kippstufe oder bistabiles Kippglied genannt, ist eine elektronische Schaltung, die zwei stabile Zustände des Ausgangssignals besitzt.
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Geschwindigkeit
Die Geschwindigkeit ist neben dem Ort und der Beschleunigung einer der grundlegenden Begriffe der Kinematik, eines Teilgebiets der Mechanik.
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Herstellungskosten
Als Herstellungskosten (oder Produktionskosten) wird in der Betriebswirtschaftslehre und insbesondere in der Kostenrechnung eine Kostenart bezeichnet, die durch die Produktion von Gütern oder Dienstleistungen innerhalb einer Rechnungsperiode verursacht wird.
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Hertz (Einheit)
Das Hertz (Einheitenzeichen: Hz) ist die SI-Einheit der Frequenz.
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Integrierter Schaltkreis
Funktionseinheiten wie Rechenwerk und Cache des Prozessors zu erkennen. Aktuelle Prozessor-Chips umfassen bei ähnlichen Abmessungen mittlerweile etwa 4000 Mal so viele Transistoren. Ein integrierter Schaltkreis, auch integrierte Schaltung (kurz IC; die Buchstaben werden einzeln gesprochen: bzw. veraltet IS) ist eine auf einem dünnen, meist einige Millimeter großen Plättchen aus Halbleiter-Material aufgebrachte elektronische Schaltung.
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Joint Test Action Group
Joint Test Action Group (kurz JTAG) ist ein häufig verwendetes Synonym für den IEEE-Standard 1149.1, der eine Methodik für das Testen und Debuggen integrierter Schaltungen, also Hardware auf Leiterplatten, beschreibt.
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Komparator (Analogtechnik)
Ein Komparator ist eine elektronische Schaltung, die zwei Spannungen vergleicht.
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Leckstrom
Als Leckstrom bezeichnet man in der Elektrotechnik und Elektronik einen elektrischen Strom, der in Halbleiterbauelementen über einen Pfad fließt, der nicht zur Leitung von Strom vorgesehen ist.
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Leiterplatte
Bestückungsseite (oben) und Lötseite (unten) einer einseitigen Leiterplatte Eine Leiterplatte (Leiterkarte, Platine oder gedruckte Schaltung;, PCB) ist ein Träger für elektronische Bauteile.
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Messtechnik
Die Messtechnik befasst sich mit Geräten und Methoden zur Bestimmung (Messung) physikalischer Größen wie beispielsweise Länge, Masse, Kraft, Druck, elektrische Stromstärke, Temperatur oder Zeit.
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Mikrocontroller
Als Mikrocontroller (auch µController, µC, MCU oder Einchipmikrorechner) werden Halbleiterchips bezeichnet, die einen Prozessor und zugleich auch Peripheriefunktionen enthalten.
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Programmierbare logische Schaltung
Eine programmierbare logische Schaltung, häufig auch in deutschsprachiger Fachliteratur als Programmable Logic Device oder kurz PLD bezeichnet, ist ein elektronisches Bauelement für integrierte Schaltkreise.
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Random-Access Memory
Random-Access Memory (der oder das;, zu Deutsch: „Speicher mit wahlfreiem/direktem Zugriff“.
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Schwellenspannung
Die Schwellenspannung U_\text, auch Fluss-, Schleusen-, Durchlass-, Vorwärts- oder Kniespannung sowie selten Knickspannung genannt, ist in der Elektronik.
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Standard Test Data Format
Das STDF (Standard Test Data Format) ist ein record-orientiertes, binäres Datenformat zum Speichern von Messdaten in der ATE-Branche.
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Starrnadeladapter
Starrnadeladapter dienen der Prüfung von elektronischen Baugruppen.
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System-on-a-Chip
abruf.
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Taktsignal
Taktsignal Die Benutzung eines Taktsignals (kurz auch nur Takt; oder clock) ist ein Verfahren, den richtigen zeitlichen Ablauf beim Betrieb einer elektronischen Schaltung sicherzustellen.
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Wafertest
Der Wafer-Test ist eine Funktionsprüfung im Fertigungsablauf der Halbleitertechnik bei der Produktion von Halbleiterbauteilen wie integrierten Schaltungen.
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