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Abbildungsfehler und Elektronenmikroskop

Shortcuts: Differenzen, Gemeinsamkeiten, Jaccard Ähnlichkeit Koeffizient, Referenzen.

Unterschied zwischen Abbildungsfehler und Elektronenmikroskop

Abbildungsfehler vs. Elektronenmikroskop

In der Optik versteht man unter Abbildungsfehlern oder Aberrationen Abweichungen von der idealen optischen Abbildung durch ein optisches System wie etwa ein Foto- oder Fernrohr-Objektiv oder ein Okular, die ein unscharfes oder verzerrtes Bild bewirken. Transmissions-elektronenmikroskop (TEM) (2005) Ein Elektronenmikroskop (früher auch Übermikroskop) ist ein Mikroskop, welches das Innere oder die Oberfläche eines Objekts mit Elektronen abbilden kann.

Ähnlichkeiten zwischen Abbildungsfehler und Elektronenmikroskop

Abbildungsfehler und Elektronenmikroskop haben 6 Dinge gemeinsam (in Unionpedia): Astigmatismus (Medizin), Auflösungsvermögen, Elektronenoptik, Objektiv (Optik), Okular, Stigmator.

Astigmatismus (Medizin)

Topographisches Bild einer Hornhaut mit regulärem Astigmatismus „nach der Regel“: Die stärkste Krümmung liegt bei ca. 90° (Bild unten re., rote Linie), die schwächste bei ca. 0° (Bild unten re., blaue Linie). Astigmatismus (von griechisch ἀ- ''a''.

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Auflösungsvermögen

Der Begriff Auflösungsvermögen bezeichnet in der Optik die Unterscheidbarkeit feiner Strukturen, also zum Beispiel den minimalen Abstand, den zwei punktförmige Objekte haben müssen, um sie als getrennte Objekte wahrnehmen zu können.

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Elektronenoptik

Die Elektronenoptik befasst sich mit der Fokussierung und Abbildung von Elektronenströmen im Vakuum mittels elektrischer oder magnetischer Felder.

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Objektiv (Optik)

Blende Zwei hochauflösende Mikroskopobjektive DRP 142294 (Baujahr vor 1910) Ein Objektiv ist ein sammelndes optisches System, das eine reelle optische Abbildung eines Gegenstandes (Objektes) erzeugt.

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Okular

Plössl-Okular (32 mm) zum Einsatz an einem Teleskop Ein Okular ist der augenseitig (lateinisch oculus.

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Stigmator

TEM, astigmatisch und mit Stigmator korrigiert Ein Stigmator ist ein vorwiegend in Elektronenmikroskopen vorkommendes Bauteil, das der Beseitigung des axialen Astigmatismus der verwendeten Elektronenlinsen dient.

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Die obige Liste beantwortet die folgenden Fragen

Vergleich zwischen Abbildungsfehler und Elektronenmikroskop

Abbildungsfehler verfügt über 97 Beziehungen, während Elektronenmikroskop hat 85. Als sie gemeinsam 6 haben, ist der Jaccard Index 3.30% = 6 / (97 + 85).

Referenzen

Dieser Artikel zeigt die Beziehung zwischen Abbildungsfehler und Elektronenmikroskop. Um jeden Artikel, aus dem die Daten extrahiert ist abrufbar unter:

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