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Profilometer

Index Profilometer

Rechnergestütztes Kontaktprofilometer Ein Profilometer ist ein Messgerät zur zwei- oder dreidimensionalen Vermessung mikroskopischer oder submikroskopischer Oberflächentopografien.

Inhaltsverzeichnis

  1. 7 Beziehungen: Geometrische Produktspezifikation, ISO 25178, Konfokaltechnik, Laserprofilometrie, Tastschnittverfahren, Topografie (Messtechnik), Weißlichtinterferometrie.

  2. Dimensionales Messgerät

Geometrische Produktspezifikation

Eine Geometrische Produktspezifikation (GPS) ist eine systematisierte und in Normen standardisierte Zusammenstellung von Merkmalen und Attributen zur geometrischen Charakterisierung von herzustellenden Produkten des Wirtschaftslebens.

Sehen Profilometer und Geometrische Produktspezifikation

ISO 25178

Die Normenreihe ISO 25178 beschäftigt sich mit der flächenhaften Rauheitsmessung und erlaubt eine Vielzahl an neuen Auswertungen, um Funktionen der Oberfläche besser zu beschreiben.

Sehen Profilometer und ISO 25178

Konfokaltechnik

Anwendung der Konfokaltechnik in der Materialforschung: Ausschnitt aus dem 3D-Profil einer 1-Euro-Münze Querschnitt durch die obige Messung parallel zur x-Achse bei y.

Sehen Profilometer und Konfokaltechnik

Laserprofilometrie

Die Laser-Profilometrie ist eine berührungslose Messmethode, um Oberflächenprofile mit einer Genauigkeit im µm-Bereich abzutasten.

Sehen Profilometer und Laserprofilometrie

Tastschnittverfahren

Tastschnittgerät: Ein Träger (1) hält eine kleine Spitze (2), die horizontal (3) über die Objektoberfläche (5) gezogen wird. Während die Spitze dem Profil folgt, bewegt sich der Ausleger vertikal (4). Die Vertikalposition wird als hellgrün dargestelltes Profil (6) aufgezeichnet.

Sehen Profilometer und Tastschnittverfahren

Topografie (Messtechnik)

Der Begriff Topografie (von, und de bzw. ‚beschreiben‘; wörtlich ‚Ortsbeschreibung‘) – auch Oberflächenbeschaffenheit – bezeichnet im Bereich der Messtechnik die Beschreibung sowohl der geometrischen Gestalt als auch der physikalischen und chemischen Eigenschaften von technischen Oberflächen oder Mikrostrukturen.

Sehen Profilometer und Topografie (Messtechnik)

Weißlichtinterferometrie

Die Weißlichtinterferometrie (WLI) ist eine berührungslose optische Messmethode, welche die Interferenz breitbandigen Lichts (Weißlicht) ausnutzt und so 3D-Profilmessungen von Strukturen mit Abmessungen zwischen einigen Zentimetern und einigen Mikrometern erlaubt.

Sehen Profilometer und Weißlichtinterferometrie

Siehe auch

Dimensionales Messgerät

Auch bekannt als Profilometrie.