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11 Beziehungen: Atom, Cluster (Physik), Ion, Matrixeffekt, Niederenergetische Ionenstreuspektroskopie, Oberflächenchemie, Oberflächenphysik, Parts per million, Rutherford Backscattering Spectrometry, Sekundärionen-Massenspektrometrie, Sputtern.
Atom
kugelsymmetrisch. kovalenten Radius Atome (von „unteilbar“) sind die Bausteine, aus denen alle festen, flüssigen und gasförmigen Stoffe bestehen.
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Cluster (Physik)
sphärisch ist. Solche großen Fullerene sind daher nur in Verbindung mit C60, C70 und größeren Fullerenen als sogenannte „Onions“ stabil. Unter einem Cluster versteht man eine Ansammlung von Atomen oder Molekülen, deren Atomanzahl n zwischen 3 und 10 Millionen liegt.
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Ion
'''Lithium-Ion Li+''': Den drei rot gefärbten Protonen im übergroß dargestellten Atomkern stehen zwei blau dargestellte Elektronen gegenüber. Ein Ion ist ein elektrisch geladenes Atom oder Molekül.
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Matrixeffekt
Der Matrixeffekt (von lat. mater.
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Niederenergetische Ionenstreuspektroskopie
Die niederenergetische Ionenstreuspektroskopie (auch „Streuspektroskopie niederenergetischer Ionen“, engl. Low Energy Ion Scattering, LEIS) ist ein oberflächenanalytisches Verfahren zur elementaren Analyse von Festkörpern.
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Oberflächenchemie
Oberflächenchemie ist ein Teilgebiet der Physikalischen Chemie, bei dem die chemischen und strukturellen Vorgänge untersucht werden, die sich an Grenzflächen, meist fest/gasförmig, abspielen.
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Oberflächenphysik
Der Lotoseffekt kann auf den mikroskopischen Aufbau der Oberfläche zurückgeführt werden. Die Oberflächenphysik ist ein Teilgebiet der Festkörperphysik und beschäftigt sich mit der Topographie, der Geometrie, der Bandstruktur und der Adsorption von Stoffen an Oberflächen von Festkörpern.
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Parts per million
Eine Angabe Parts per million steht für einen Faktor 10−6 oder für ein Millionstel.
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Rutherford Backscattering Spectrometry
Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS), deutsch Rutherford-Rückstreu-Spektrometrie, ist eine Methode zur Untersuchung von oberflächennahen dünnen Schichten mit Hilfe von Ionenstrahlen.
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Sekundärionen-Massenspektrometrie
Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie, mit der die Zusammensetzung einer Probe analysiert werden kann; sie stellt somit eine spezielle Form der Massenspektrometrie dar.
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Sputtern
Das Sputtern (von englisch to sputter.
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