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Feldionenmikroskop

Index Feldionenmikroskop

FIM-Bild einer Wolframspitze in -Orientierung bei 11 kV. Die Ringstruktur resultiert aus der Anordnung der Atome in einem krz-Gitter. Einzelne helle Punkte können als die Bilder einzelner Atome interpretiert werden. Schematische Darstellung eines FIM Das Feldionenmikroskop (FIM) ist ein Analysegerät der Materialwissenschaften.

32 Beziehungen: Abbildungsfehler, Atom, Atomsonde, Auflösungsvermögen, Brownsche Bewegung, Edelgase, Elektrische Ladung, Elektrisches Feld, Elektron, Elektronenmikroskop, Erwin Wilhelm Müller, Feldelektronenmikroskop, Feldemission, Focused Ion Beam, Gitterfehler, Grenzfläche, Helium, Ionisation, Kelvin, Lichtmikroskop, Materialwissenschaft und Werkstofftechnik, Materiewelle, Mikrokanalplatte, Mikroskop, Nadel, Neon, Oberflächenchemie, Temperatur, Versetzung (Materialwissenschaft), Volt, Wolfram, Zentralprojektion.

Abbildungsfehler

In der Optik versteht man unter Abbildungsfehlern oder Aberrationen Abweichungen von der idealen optischen Abbildung durch ein optisches System wie etwa ein Foto- oder Fernrohr-Objektiv oder ein Okular, die ein unscharfes oder verzerrtes Bild bewirken.

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Atom

kugelsymmetrisch. kovalenten Radius Atome (von „unteilbar“) sind die Bausteine, aus denen alle festen, flüssigen und gasförmigen Stoffe bestehen.

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Atomsonde

3D-Darstellung von Atomsondendaten eines Cu/Ni-Fe-Multilayersystems. Bei genauer Betrachtung kann man im Cu (grün) horizontale Netzebenen erkennen. Die Atomsonde ist ein Analysegerät der Materialwissenschaften.

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Auflösungsvermögen

Der Begriff Auflösungsvermögen bezeichnet in der Optik die Unterscheidbarkeit feiner Strukturen, also zum Beispiel den minimalen Abstand, den zwei punktförmige Objekte haben müssen, um sie als getrennte Objekte wahrnehmen zu können.

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Brownsche Bewegung

10.1021/acs.jchemed.6b01008. Die brownsche Bewegung ist die vom Botaniker Robert Brown im Jahr 1827 unter dem Mikroskop entdeckte unregelmäßige und ruckartige Wärmebewegung kleiner Teilchen in Flüssigkeiten und Gasen.

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Edelgase

Die Edelgase, auch inerte Gase oder Inertgase bilden eine Gruppe im Periodensystem der Elemente, die sieben Elemente umfasst: Helium, Neon, Argon, Krypton, Xenon, das radioaktive Radon sowie das künstlich erzeugte, ebenfalls radioaktive Oganesson.

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Elektrische Ladung

Die elektrische Ladung oder Elektrizitätsmenge ist eine physikalische Größe, die mit der Materie verbunden ist, wie beispielsweise auch die Masse.

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Elektrisches Feld

Eine nirgends angeschlossene Leuchtstofflampe in der Nähe einer Hochspannungsleitung leuchtet aufgrund des sich ständig ändernden elektrischen Feldes Das elektrische Feld ist ein physikalisches Feld, das durch die Coulombkraft auf elektrische Ladungen wirkt.

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Elektron

Das Elektron (IPA:,; von „Bernstein“) ist ein negativ geladenes stabiles Elementarteilchen.

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Elektronenmikroskop

Transmissions-elektronenmikroskop (TEM) (2005) Ein Elektronenmikroskop (früher auch Übermikroskop) ist ein Mikroskop, welches das Innere oder die Oberfläche eines Objekts mit Elektronen abbilden kann.

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Erwin Wilhelm Müller

Erwin Wilhelm Müller (* 13. Juni 1911 in Berlin; † 17. Mai 1977 in Washington, USA) war ein deutsch-amerikanischer Physiker.

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Feldelektronenmikroskop

Ansicht des Schirmbildes beim Feldemissionsmikroskop (Schulversuch) Das Feldelektronenmikroskop (auch: Feldemissionsmikroskop, selten: Spitzenübermikroskop) gehört zu den hochauflösenden Mikroskopen, mit denen eine räumliche Auflösung im atomaren Bereich möglich ist.

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Feldemission

Bei der Feldemission werden durch ein ausreichend starkes elektrisches Feld (mehr als 109 V/m) Elektronen mit einer sehr geringen Energiebreite aus einer (negativ geladenen) Kathode gelöst.

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Focused Ion Beam

FIB-Arbeitsplatz frische Gallium-Quelle verbrauchte Gallium-Quelle Ein Focused Ion Beam (Abk.: FIB; englisch für „fokussierter Ionenstrahl“, deutsch auch Ionenfeinstrahlanlage) ist ein Mittel zur Oberflächenanalyse und -bearbeitung.

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Gitterfehler

Als Gitterfehler (auch Gitterdefekt oder Kristall(bau)fehler) wird jede Unregelmäßigkeit in einem sonst periodischen Kristallgitter bezeichnet.

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Grenzfläche

Als Grenzfläche oder Phasengrenze wird in der Physik und Materialwissenschaft die Fläche zwischen zwei Phasen bezeichnet, beispielsweise die Fläche zwischen zwei nicht mischbaren Flüssigkeiten wie Öl und Wasser.

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Helium

Helium (von) ist ein chemisches Element und hat die Ordnungszahl 2.

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Ionisation

Stoßionisation durch ein Elektron Ionisation heißt jeder Vorgang, bei dem aus einem Atom oder Molekül ein oder mehrere Elektronen entfernt werden, sodass das Atom oder Molekül als positiv geladenes Ion (Kation) zurückbleibt.

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Kelvin

Das Kelvin (Einheitenzeichen: K) ist die SI-Basiseinheit der thermodynamischen Temperatur und zugleich gesetzliche Temperatureinheit in der EU, der Schweiz und fast allen anderen Ländern.

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Lichtmikroskop

Carl Zeiss von 1879 mit Optiken berechnet von Ernst Abbe. Lichtmikroskope (von griechisch μικρόν micrón „klein“, und σκοπεῖν skopein„etwas ansehen“) sind Mikroskope, die stark vergrößerte Bilder von kleinen Strukturen oder Objekten mit Hilfe von Licht erzeugen.

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Materialwissenschaft und Werkstofftechnik

kristallografischen Ebenen, abgebildet mit dem Rasterelektronenmikroskop. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (kurz: MatWerk, auch: Werkstoffwissenschaft und Werkstoffkunde) ist ein interdisziplinäres Fachgebiet, das sich mit der Erforschung und Entwicklung von Materialien und Werkstoffen befasst; aus Werkstoffen werden technisch relevante Bauteile hergestellt.

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Materiewelle

Interferenz. Der Begriff Materiewelle beschreibt das zum Teil wellenartige Verhalten der einzelnen Teilchen, die die Materie bilden.

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Mikrokanalplatte

Eine Mikrokanalplatte (gebräuchlich ist auch der englische Begriff microchannel plate, abgekürzt MCP) ist ein flächenhafter, bildauflösender Sekundärelektronenvervielfacher.

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Mikroskop

Leitz von 1909, ein für die Zeit typisches Labormikroskop. Ein Transmissionselektronenmikroskop. Nadelspitze eines Rasterkraftmikroskops, aufgenommen mit einem Rasterelektronenmikroskop. Ein Mikroskop (von griechisch μικρός mikrós „klein“; σκοπεῖν skopeín „betrachten“) ist ein Gerät, das es erlaubt, Objekte stark vergrößert anzusehen oder bildlich darzustellen.

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Nadel

Stecknadel Eine Nadel (als gemeingermanische Bezeichnung zur indogermanischen Wurzel nē-, „mit dem Faden arbeiten, nähen“, gebildet) ist ein längliches, dünnes Werkzeug aus hartem Material (früher Knochen, heute meist Metall) mit einer Spitze am unteren Ende.

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Neon

Neon ist ein chemisches Element mit dem Symbol Ne und der Ordnungszahl 10.

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Oberflächenchemie

Oberflächenchemie ist ein Teilgebiet der Physikalischen Chemie, bei dem die chemischen und strukturellen Vorgänge untersucht werden, die sich an Grenzflächen, meist fest/gasförmig, abspielen.

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Temperatur

Die Temperatur ist eine physikalische Zustandsgröße aus der Thermodynamik.

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Versetzung (Materialwissenschaft)

alternativtext.

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Volt

Das Volt ist die SI-Einheit der elektrischen Spannung.

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Wolfram

Wolfram ist ein chemisches Element mit dem Elementsymbol W und der Ordnungszahl 74.

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Zentralprojektion

Zentralprojektion eines Würfels Parallelprojektion bzw. Zentralprojektion einer Häuserreihe Mit Hilfe der Zentralprojektion stellt man in der darstellenden Geometrie anschauliche Bilder von räumlichen Objekten her.

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Leitet hier um:

Feldionenmikroskopie.

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